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XPS检测实验结果数据说明
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测试提示:

  1.可开正规测试发票,附带测试清单。

  2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

  3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

  4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流:82187958。

  5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。

项目内容:

 XPS测试结果分为全谱+精细谱两部分,拿到数据先看全谱,如下图:

  Survey是全谱数据,Survey左侧依次是本次是测试中的精细谱(有些人称为窄谱)数据。用于数据拟合和分峰处理,具体见分峰教程。

  表面元素含量定性定量结果,其中Atomic %是本次可以使用的数据,PP At. %不用管,俄歇中用的参数,截图如下:

  A. 化合物中元素种类的分析——全谱分析

  1. 什么时候需要进行全谱分析(XPS survey)?全谱分析的目的是什么?

  全谱分析一般用来说明样品中是否存在某种元素。比较极端的,对于某一化学成分完全未知的样品,可以通过XPS全谱分析来确定样品中含有哪些元素(H和He除外)。

  而更多情况下,人们采用已知成分的原料来合成样品,然后通过XPS全谱来确定样品中到底含有哪些元素;或者对某一已知成分的样品进行某种处理(掺杂或者脱除),然后通过XPS全谱分析来确定元素组成,最终证实这种处理手段的有效性。

  实例说明一:J. Appl. Phys. 2014,116, 213911一文中,采用XPS全谱分析来对比AlN和AlN:Er,证实reactive magnetron sputtering处理后,Er成功掺杂到AlN薄膜中。

  实例说明二:Appl. Catal. B: Environ. 2009, 595–602.一文中采用XPS全谱分析来说明Fe成功掺杂到TiO2 nanorod中。

  从以上两个例子中可以看出,全谱分析主要看峰的有无,进而确定是否存在该元素。

  2. 全谱分析有何不足之处?

  全谱分析所得到的信号比较粗糙,只是对元素进行粗略的扫描,确定元素有无以及大致位置。对于含量较低的元素而言,信噪比很差,不能得到非常精细的谱图。通常,全谱分析只能得到表面组成信息,得不到准确的元素化学态和分子结构信息等。




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