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XPS检测全谱分析与EDS有何异同?
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测试提示:

  1.可开正规测试发票,附带测试清单。

  2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

  3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

  4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流:82187958。

  5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。

项目内容:

XPS检测全谱分析与EDS有何异同?

  a. EDS与XPS的相同点:两者均可以用于元素的定性和定量检测。

  b. EDS与XPS的不同点:

  1) 基本原理不一样: 简单来说,XPS是用X射线打出电子,检测的是电子;EDS则是用电子打出X射线,检测的是X射线。

  2) EDS只能检测元素的组成与含量,不能测定元素的价态,且EDX的检测限较高(含量>2%),即其灵敏度较低。而XPS既可以测定表面元素和含量,又可以测定表其价态。XPS的灵敏度更高,最低检测浓度>0.1%。

  3) 用法不一样:EDS常与SEM,TEM联用,可以对样品进行点扫,线扫,面扫等,能够比较方便地知道样品的表面(和SEM联用)或者体相(和TEM联用)的元素分布情况;而XPS则一般独立使用,对样品表面信息进行检测,可以判定元素的组成,化学态,分子结构信息等

  备注:EDS或EDX指能量色散X射线光谱仪,全称为Energy Dispersive X-ray Spectroscopy。

  B. 化合物中元素化学态与结构分析——窄区扫描(高分辨谱)

  什么叫荷电校正?为什么需要进行荷电校正?

  当用XPS测量绝缘体或者半导体时,由于光电子的连续发射而得不到电子补充,使得样品表面出现电子亏损,这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs,对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移,使得测量的结合能偏离真实值,造成测试结果的偏差。在用XPS测量绝缘体或者半导体时,需要对荷电效应所引起的偏差进行校正(荷电校正的目的),称之为“荷电校正”。




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