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武汉XPS检测​(XPS)
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测试提示:

  1.可开正规测试发票,附带测试清单。

  2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

  3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

  4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流:82187958。

  5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。

项目内容:

武汉XPS检测(XPS),基于光电离作用,当一束光子辐射到样品表面时,光子可以被样品中某一元素的原子轨道上的电子所吸收,使该原子解脱原子核的束缚,以一定的动能从原子内部发射出来,变成自由的光电子,而原子本身则变成一个激发态的离子。当固定激发源能量时,其光电子的能量仅与元素的种类和所电离激发的原子轨道有关,由此根据光电子的结合能定性分析物质的元素种类。经X射线辐照后,从样品表面射出的光电子的强度与样品中该原子的浓度呈线性关系,可以进一步进行元素的半定量分析。另外,XPS的重要应用是对元素的化学价态进行分析。 仪器技术参数 离子源:100-4000eV 束斑直径:1-10mm 溅射速率范围:0.1-50nm/min 采样深度:金属0.5-2nm,无机物1-3nm,有机物3-10nm 送样要求 固体粉末:均匀干燥,粒度小于70um(过200目),质量不少于100 mg; 块体、金属及薄膜样,长宽小于10mm,高度小于5mm。 对含有挥发性、油污污染物的样品许提前去除,绝对禁止分析带有磁性的样品。 应用 在化学、材料科学及表面科学中具有广泛的应用价值。 1、 表面元素定性分析 2、 表面元素的半定量分析 3、 表面元素的化学价态分析 4、 元素沿深度方向的分布分析 常见谱图 常见适用标准 ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测




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